Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://repo.snau.edu.ua:8080/xmlui/handle/123456789/1785| Назва: | Про деякі удосконалення іонного мікрозондового аналізатора |
| Інші назви: | О некоторых усовершенствованиях ионного микрозондового анализатора On Some Improvements of Ion Microprobe Mass Analyzer |
| Автори: | Кузема, О. С. Кузема, П. О. Кузема, А. С. Кузема, П. А. Kuzema, O. S. Kuzema, P. O. |
| Ключові слова: | магнітна призма фокусування іонів електростатична лінза магнитная призма фокусировка ионов электростатическая линза мagnetic prism іon focusing еlectrostatic lens |
| Дата публікації: | 2013 |
| Видавництво: | Сумський державний університет |
| Бібліографічний опис: | Кузема О. С. Про деякі удосконалення іонного мікрозондового аналізатора [Електронний ресурс] / О. С. Кузема, П. О. Кузема // Журнал нано- та електронної фізики. - Суми : Сумський державний університет, 2013. - Т. 5. - № 3. |
| Короткий огляд (реферат): | Розглянуто іонно-оптичні властивості і характеристики іонного мікрозондового аналізатора, в якому сепарацію первинного іонного пучка за масами виконує секторна магнітна призма, а в системі аналізу вторинних іонів у якості енергоаналізатора застосовано сферичний конденсатор, що формує паралельний іонний пучок на вході в мас-аналізатор. Це дозволило покращити параметри приладу і зменшити його габарити. Рассмотрены ионно-оптические свойства и характеристики ионного микрозондового анализатора, в котором сепарацию первичного пучка по массам осуществляет секторная магнитная призма, а в системе анализа вторичных ионов в качестве энергоанализатора использован сферический конденсатор, формирующий параллельный ионный пучок на входе в масс-анализатор. Это позволило улучшить параметры прибора и уменьшить его габариты. |
| Опис: | It has been considered the ion-optical properties and characteristics of ion microprobe analyzer in which the primary ion beam mass separation is realized by the magnetic prism, and the beam spherical capacitor is used in the secondary ion analyzing system as energy analyzer which form parallel ion beam at the mass analyzer inlet. It has allowed to improve the instrument parameters and to scale down its overall dimension. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://repo.sau.sumy.ua/handle/123456789/1785 |
| Розташовується у зібраннях: | Статті, тези доповідей |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| jnep_2013_V5_03045.pdf | 387,77 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.